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高灵敏度宽动态范围光电特性(QE)测试系统Hifinity 5HS

  • 子能隙态(subgap state)和子能隙结构(subgap structure)测量
  • Hifinity 5HS
  • Hifinity 5HS

简述:

子能隙态(subgap state)和子能隙结构(subgap structure)测量,是太阳电池、光电探测器、和其它光电器件和光电功能材料的研究和开发中,最前沿的研究手段之一。它的实现依赖于微弱电流的精确测量和各种噪声的识别和排除。CROWNTECH的HIFINITY 5HS系统以其强大的微弱电流探测能力(fA和亚fA级别),可以在等效动态范围为120dB(12个量级)及以上的量级对量子效率

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高灵敏度宽动态范围光电特性(QE)测试系统HIFINITY 5HS(图1)

子能隙态(subgap state)和子能隙结构(subgap structure测量,是太阳电池、光电探测器、和其它光电器件和光电功能材料的研究和开发中,最前沿的研究手段之一。它的实现依赖于微弱电流的精确测量和各种噪声的识别和排除。CROWNTECHHifinity 5HS系统以其强大的微弱电流探测能力(fA和亚fA级别),可以在等效动态范围为120dB12个量级)及以上的量级对量子效率(QE)进行测量,为相关领域提供了全新的强大研究测量手段。

 

系统详细信息请联系CROWNTECH:13810263413


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